Rostislav Lapshin

Short reports on developments and progress in scanning tunneling microscopy (STM), atomic-force microscopy (AFM), scanning probe microscopy (SPM), high capacity probe storage devices (PSD), nanometrology, automatic surface characterization, nanolithography, nanomanipulation, nanoassembling, nanofabrication, molecular manufacturing, nanotechnology, catalytic nanoparticles (CNP), optical profilometry (OP), micromechanical bimaterial IR-detectors

Краткие сообщения по разработкам и достижениям в области сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), атомно-силовой микроскопии (АСМ), сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), зондовых запоминающих устройств большой ёмкости (ЗЗУ), нанометрологии, автоматической характеризации поверхности, нанолитографии, наноманипуляции, наносборки, нанопроизводства, молекулярного производства, нанотехнологии, каталитических наночастиц (КНЧ), оптической профилометрии (ОП), микромеханических биматериальных ИК-приёмников